高純鎢條中痕量雜質(zhì)的檢測有知道的朋友嗎？

發(fā)布時間：2020-09-22

高純鎢中痕量元素的測定是評價高純鎢性能的重要標準，降低痕量元素的測定下限和增加痕量元素的測定數(shù)目，提高測量的精確度和靈敏度是高純鎢檢測工藝的主要攻關方向。高純金屬中痕量元素的檢測常用手段有光譜分析、質(zhì)譜分析、中子分析等。隨著材料純度的提高，傳統(tǒng)的光譜分析以及中子分析所測元素的量及分析靈敏度均不能滿足6N 鎢粉的分析要求，而質(zhì)譜分析在高純鎢中痕量雜質(zhì)的檢測方面發(fā)揮著越來越重要的作用。

電感耦合等離子質(zhì)譜法( ICP-MS) 測定方法是新一代痕量分析技術，具有檢測限低、能進行多元素同時分析等優(yōu)點，但仍存在基體效應的干擾問題。北京有色金屬研究院采取預分離富集技術，借助離子色譜分離基體，降低基體對雜質(zhì)檢測的干擾，利用膜去溶裝置吹掃溶劑有效地降低了ICP-MS檢測過程中氧化物的產(chǎn)率，精確地測定了6N 鎢粉中的雜質(zhì)。

與ICP-MS 法相比，輝光放電質(zhì)譜法(GDMS)具有可對固體樣品直接測量、樣品制備簡單的優(yōu)點，同時避免了ICP-MS法溶樣過程中難溶元素的損失和污染的引入，可更有效地應用于6N及以上高純鎢的全面分析檢測。隨著儀器靈敏度、分辨率、穩(wěn)定性等的進一步提高，GD-MS作為對超純樣品直接分析的質(zhì)譜方法將得到更廣泛的應用。

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